產(chǎn)品[
ZAT-A介電常數(shù)測試儀
]資料
產(chǎn)品名稱:
ZAT-A介電常數(shù)測試儀
產(chǎn)品型號:
ZAT-A
產(chǎn)品展商:
中慧
產(chǎn)品文檔:
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簡單介紹
介質損耗和介電常數(shù)是**電瓷、裝置瓷、電容器等陶瓷，還有復合材料等的一項重要的物理性質，通過測定介質損耗角正切tanδ及介電常數(shù)(ε)，可進一步了解影響介質損耗和介電常數(shù)的**因素，為提高材料的性能提供依據(jù)；儀器的基本原理是采用高頻諧振法，并提供了，**、多用途、多量程的阻抗測試
ZAT-A介電常數(shù)測試儀
的詳細介紹
產(chǎn)品簡介
介質損耗和介電常數(shù)是**電瓷、裝置瓷、電容器等陶瓷，還有復合材料等的一項重要的物理性質，通過測定介質損耗角正切tanδ及介電常數(shù)(ε)，可進一步了解影響介質損耗和介電常數(shù)的**因素，為提高材料的性能提供依據(jù)；儀器的基本原理是采用高頻諧振法，并提供了，**、多用途、多量程的阻抗測試。它以單片計算機作為儀器的控制，測量核心采用了頻率數(shù)字鎖定，標準頻率測試點自動設定，諧振點自動搜索，Q值量程自動轉換，數(shù)值顯示等新，改進了調諧回路，使得調諧測試回路的殘余電感減至低，并保留了原Q表中自動穩(wěn)幅等，使得新儀器在使用時*為方便，測量值*為。儀器能在較高的測試頻率條件下，測量高頻電感或諧振回路的Q值，電感器的電感量和分布電容量，電容器的電容量和損耗角正切值，電工材料的高頻介質損耗，高頻回路**并聯(lián)及串聯(lián)電阻，傳輸線的特性阻抗等。
該儀器用于科研、學校、工廠等單位對*機非金屬新材料性能的應用研究。
指標
Q值測量
Q值測量范圍：2～1023
Q值量程分檔：30、100、300、1000、自動換檔或手動換檔
標稱誤差
頻率范圍:20kHz～10MHz
固有誤差:≤5％±滿度值的2%
工作誤差:≤7％±滿度值的2%
頻率范圍:10MHz～60MHz
固有誤差:≤6％±滿度值的2%
工作誤差:≤8％±滿度值的2%
電感測量范圍:14.5nH~8.14H
電容測量:1~460
直接測量范圍:1～460pF
主電容調節(jié)范圍準確度:30～500pF
150pF以下±1.5pF
150pF以上±1%
注：大于直接測量范圍的電容測量見使用規(guī)則
信號源頻率覆蓋范圍
頻率范圍:10kHz～50MHz
頻率分段（虛擬）:10～99.9999kHz
100～999.999kHz
1～9.99999MHz
10～60MHz
頻率指示誤差:3×10-5±1個字
Q合格指示預置功能
預置范圍:5～1000
工作條件
環(huán)境溫度:0℃～+40℃
相對濕度：<80%
電源:220V±22V，50Hz±2.5Hz
消耗功率:約25W
凈重：約7kg
外型尺寸:380×132×280mm
產(chǎn)品配置
測試主機 一臺
電感 9只
夾具 一套